Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""BOREL, G"" wg kryterium: Autor


Tytuł:
COMPARISON OF HOT-CARRIERS EFFECTS IN SOI AND BULK DEVICES USING A PHOTON EMISSION TECHNIQUE.
Autorzy:
Guichard, E.
Leroux, C.
Blachter, D.
Reimbold, G.
Cristoloveanu, S.
Borel, G.
Pokaż więcej
Temat:
HOT carriers
HOLES (Electron deficiencies)
SEMICONDUCTORS
SILICON-on-insulator technology
ELECTRIC insulators & insulation
PHOTON emission
Źródło:
Quality & Reliability Engineering International; Jul/Aug96, Vol. 12 Issue 4, p291-296, 6p
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies