Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Bagdahn, Joerg"" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Infrared birefringence imaging of residual stress and bulk defects in multicrystalline silicon.
Autorzy :
Ganapati, Vidya
Schoenfelder, Stephan
Castellanos, Sergio
Oener, Sebastian
Koepge, Ringo
Sampson, Aaron
Marcus, Matthew A.
Lai, Barry
Morhenn, Humphrey
Hahn, Giso
Bagdahn, Joerg
Buonassisi, Tonio
Pokaż więcej
Temat :
SILICON
DOUBLE refraction
INFRARED imaging
STRAINS & stresses (Mechanics)
SOLAR cells
Źródło :
Journal of Applied Physics; Oct2010, Vol. 108 Issue 6, p063528, 13p, 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 2 Charts, 10 Graphs
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies