Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Bakeroot, Benoit"" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
Scaling of E-mode power GaN-HEMTs for low voltage/low Ron applications: Implications on robustness.
Autorzy:
Benato, Andrea (AUTHOR)
De Santi, Carlo (AUTHOR)
Borga, Matteo (AUTHOR)
Bakeroot, Benoit (AUTHOR)
Filipek, Izabela Kuzma (AUTHOR)
Posthuma, Niels (AUTHOR)
Decoutere, Stefaan (AUTHOR)
Meneghesso, Gaudenzio (AUTHOR)
Zanoni, Enrico (AUTHOR)
Meneghini, Matteo (AUTHOR)
Pokaż więcej
Źródło:
Microelectronics Reliability. Nov2023, Vol. 150, pN.PAG-N.PAG. 1p.
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies