- Tytuł:
- The contribution of 180° domain wall motion to dielectric properties quantified from in situ X-ray diffraction
- Autorzy:
- Źródło:
- In Acta Materialia March 2017 126:36-43
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.