Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Bauza, D."" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-9 z 9
Tytuł:
Electrical properties of Si–SiO2 interface traps and evolution with oxide thickness in MOSFET’s with oxides from 2.3 to 1.2 nm thick
Autorzy:
Bauza, D. bauza@enserg.fr
Pokaż więcej
Źródło:
Solid-State Electronics. Oct2003, Vol. 47 Issue 10, p1677. 7p.
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-9 z 9

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies