Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Ber, B."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Investigation of Composition Uniformity in Thickness of GaInAsP Layers Grown on InP Substrates by Vapor-Phase Epitaxy
Autorzy:
Gagis, G. S.
Levin, R. V.
Marichev, A. E.
Pushnyi, B. V.
Scheglov, M. P.
Ber, B. Ya.
Kazantsev, D. Yu.
Kudriavtsev, Yu. A.
Vlasov, A. S.
Popova, T. B.
Chistyakov, D. V.
Kuchinskii, V. I.Aff1, Aff2
Vasil’ev, V. I.
Pokaż więcej
Źródło:
Semiconductors. 53(11):1472-1478
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies