- Tytuł:
- Determination of the radii of coated and uncoated silicon AFM sharp tips using a height calibration standard grating and a nonlinear regression function
- Autorzy:
- Temat:
-
afm tip calibration
nonlinear regression curve fitting
Technology
Chemical technology
TP1-1185
Science
Physics
QC1-999 - Źródło:
- Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 14, Iss 1, Pp 1200-1207 (2023)
- Opis pliku:
- electronic resource
- Relacje:
- https://doaj.org/toc/2190-4286
- Dostęp URL:
- https://doaj.org/article/a954e0119db1431c85c2cec3831bad7f Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe