- Tytuł:
- Depth profiling of microwave nitrogen-terminated polycrystalline diamond surfaces by energy-dependent X-ray photoelectron spectroscopy
- Autorzy:
- Źródło:
- In Applied Surface Science 15 July 2024 661
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.