- Tytuł:
-
Machine learning applied to X-ray tomography as a new tool to analyze the voids in RRP Nb
3 Sn wires - Autorzy:
- Źródło:
- Scientific Reports. 11(1)
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.