- Tytuł:
- DC and pulsed measurements of on-state breakdown voltage in GaAs MESFETs and InP-based HEMTs
- Autorzy:
- Źródło:
- In Microelectronics Reliability 1999 39(12):1759-1763
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.