- Tytuł:
- Application of SCF-LTDP technology for a-Si:H film defective passivation in X-ray PIN-based photosensor
- Autorzy:
- Źródło:
- In Materials Science in Semiconductor Processing 15 March 2023 156
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.