Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Chen, X."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
A Novel High Voltage Dielectric Test System Based on Resonant Circuits Using the Magnetically Controllable Inductance
Autorzy:
ZHANG, Y.
DAI, D.
ZHANG, J.
CHEN, X.
Pokaż więcej
Temat:
high-voltage techniques
resonance
insulation testing
magnetic variables control
emtdc
Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
TK1-9971
Computer engineering. Computer hardware
TK7885-7895
Źródło:
Advances in Electrical and Computer Engineering, Vol 20, Iss 1, Pp 3-10 (2020)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://doaj.org/toc/1582-7445; https://doaj.org/toc/1844-7600
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/a4e98313e5c740ec926df6004904fff8  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Tytuł:
A Novel Test Method for Real-time Magnetic Flux Measurement of Power Transformers
Autorzy:
ZHANG, Y.
DAI, D.
ZHANG, J.
LIU, X.
CHEN, X.
Pokaż więcej
Temat:
magnetic circuits
power transformers
empirical mode decomposition
test equipment
finite element analysis
Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
TK1-9971
Computer engineering. Computer hardware
TK7885-7895
Źródło:
Advances in Electrical and Computer Engineering, Vol 19, Iss 4, Pp 29-36 (2019)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://doaj.org/toc/1582-7445; https://doaj.org/toc/1844-7600
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/ab5e7e20275849ca8ed7917161a732f2  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Exploring the Effect of Ni as an Impurity on Fe-Rich Phases in Simulated Direct Chill Casting Al–Fe-Si Alloys
Autorzy:
Elsharkawi, E. A.Aff1, IDs13632022008943_cor1
MacNeil, D.
Chouraqui, B.
Chen, X.-G.
Pokaż więcej
Źródło:
Metallography, Microstructure, and Analysis: Application and Innovation for Metals, Alloys, and Engineered Materials. :1-12
Czasopismo naukowe
Tytuł:
R &D of back-end electronics for improved resistive plate chambers for the phase 2 upgrade of the CMS end-cap muon system
Autorzy:
Kou, H.Aff8, Aff9
Liu, Z.-A.Aff8, Aff9, IDs41605022003406_cor2
Zhao, J.Aff8, Aff9
Song, J.Aff8, Aff9
Hou, Q.Aff8, Aff9
Diao, W.Aff8, Aff9
Cao, P.Aff8, Aff9
Gong, W.
Wang, N.
Samalan, A.
Tytgat, M.
Sawy, M. El
Alves, G. A.
Marujo, F.
Coelho, E. A.
De Araujo, F. Torres Da Silva
Da Costa, E. M.
Nogima, H.
Santoro, A.
De Souza, S. Fonseca
Damiao, D. De Jesus
Thiel, M.
Filho, M. Barroso Ferreira
Amarilo, K. Mota
Aleksandrov, A.
Hadjiiska, R.
Iaydjiev, P.
Rodozov, M.
Shopova, M.
Sultanov, G.
Dimitrov, A.
Litov, L.
Pavlov, B.
Petkov, P.
Petrov, A.
Shumka, E.
Qian, S. J.
Avila, C.
Barbosa, D.
Cabrera, A.
Florez, A.
Fraga, J.
Reyes, J.
Assran, Y.Aff11, Aff12
Mahmoud, M. A.
Mohammed, Y.
Laktineh, I.
Grenier, G.
Gouzevitch, M.
Mirabito, L.
Shchablo, K.
Combaret, C.
Tromeur, W.
Galbit, G.
Luciol, A.
Chen, X.
Bagaturia, I.
Lomidze, I.
Tsamalaidze, Z.
Amoozegar, V.
Boghrati, B.Aff16, Aff17
Ebraimi, M.
Zareian, E.
Najafabadi, M. Mohammadi
Abbrescia, M.
Iaselli, G.
Pugliese, G.
Loddo, F.
De Filippis, N.
Aly, R.
Ramos, D.
Elmetenawee, W.
Leszki, S.
Margjeka, I.
Paesani, D.
Benussi, L.
Bianco, S.
Piccolo, D.
Meola, S.
Buontempo, S.
Carnevali, F.
Lista, L.
Paolucci, P.
Fienga, F.
Braghieri, A.
Salvini, P.
Montagna, P.
Riccardi, C.
Vitulo, P.
Asilar, E.
Choi, J.
Kim, T. J.
Choi, S. Y.
Hong, B.
Lee, K. S.
Oh, H. Y.
Goh, J.
Yu, I.
Estrada, C. Uribe
Pedraza, I.
Castilla-Valdez, H.
Fernandez, R. L.
Sanchez-Hernandez, A.
Vazquez, E.
Ramirez-Garcia, M.
Zaganidis, N.
Radi, A.
Hoorani, H.
Muhammad, S.
Ahmad, A.
Asghar, I.
Shah, M. A.
Khan, W. A.
Eysermans, J.
Crotty, I.
Pokaż więcej
Źródło:
Radiation Detection Technology and Methods. :1-11
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Dynamic evolution computing of leakage and diffusion from pipeline gas and risk analysis
Autorzy:
Zhou, X.Aff1, Aff2, IDs13762022043667_cor1
Yang, D.
Chen, X.
Fang, L.
Pokaż więcej
Źródło:
International Journal of Environmental Science and Technology. :1-12
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Prześlij opinię

Twoje opinie są dla nas bardzo ważne i mogą być niezwykle pomocne w pokazaniu nam, gdzie możemy dokonać ulepszeń. Bylibyśmy bardzo wdzięczni za poświęcenie kilku chwil na wypełnienie krótkiego formularza.

Formularz