- Tytuł:
- An MCT-Based Bit-Weight Extraction Technique for Embedded SAR ADC Testing and Calibration
- Autorzy:
- Źródło:
- Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. October 2012 28(5):705-722
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.