Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Chung, D."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Electrical-Connection-Related Stray Inductance Causing Overassessment of the Electrical Resistance Measured by Using the Two-Probe Method
Autorzy:
Kim, Min KyoungAff1, Aff2
Chung, D. D. L.Aff1, IDs11664023108120_cor2
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Electronic Materials. 53(2):1026-1034
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Comments on “Electromagnetic interference (EMI) shielding effectiveness (SE) of pure aluminum: an experimental assessment for 5G (SUB 6GHZ)”
Autorzy:
Chung, D. D. L.Aff1, IDs10854024122388_cor1
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Materials Science: Materials in Electronics. 35(7)
Czasopismo naukowe
Tytuł:
New concept of electret-based capacitance, as shown for solder and other conductors
Autorzy:
Chung, D. D. L.Aff1, IDs10854022093664_cor1
Xi, XiangAff1, Aff2
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Materials Science: Materials in Electronics. 33(36):27022-27039
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Pitfalls in Piezoresistivity Testing
Autorzy:
Chung, D. D. L.Aff1, IDs11664022098574_cor1
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Electronic Materials. 51(10):5473-5481
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Pitfalls in Electromagnetic Skin-Depth Determination
Autorzy:
Chung, D. D. L.Aff1, IDs11664022094889_cor1
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Electronic Materials. 51(5):1893-1899
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Introducing solder-based electronics, with solder functioning as resistor, capacitor, and power source
Autorzy:
Chung, D. D. L.Aff1, IDs10854022096147_cor1
Xi, XiangAff1, Aff2
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Materials Science: Materials in Electronics. 34(2)
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Pitfalls and Methods in the Measurement of the Electrical Resistance and Capacitance of Materials
Autorzy:
Chung, D. D. L.
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Electronic Materials. 50(12):6567-6574
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Correction to: New concept of electret-based capacitance, as shown for solder and other conductors
Autorzy:
Chung, D. D. L.Aff1, IDs10854022093851_cor1
Xi, XiangAff1, Aff2
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Materials Science: Materials in Electronics. 33(36):27040-27040
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies