- Tytuł:
- Electrical-Connection-Related Stray Inductance Causing Overassessment of the Electrical Resistance Measured by Using the Two-Probe Method
- Autorzy:
- Źródło:
- Journal of Electronic Materials. 53(2):1026-1034
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.