- Tytuł:
- Investigating interface states and oxide traps in the MoS2/oxide/Si system
- Autorzy:
- Źródło:
- In Solid State Electronics December 2021 186
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.