Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Constancias, C."" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-53 z 53
Tytuł :
Downsizing and Silicon Integration of Photoacoustic Gas Cells
Autorzy :
Glière, A.
Barritault, P.
Berthelot, A.
Constancias, C.
Coutard, J.-G.
Desloges, B.
Duraffourg, L.
Fedeli, J.-M.
Garcia, M.
Lartigue, O.
Lhermet, H.
Marchant, A.
Rouxel, J.Aff1, Aff2
Skubich, J.Aff1, Aff3
Teulle, A.
Verdot, T.
Nicoletti, S.
Pokaż więcej
Źródło :
International Journal of Thermophysics: Journal of Thermophysical Properties and Thermophysics and Its Applications. 41(2)
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Critical Components for XUV Probing of Laser Driven Shocks
Autorzy :
Stehlé, C.
Lefèvre, R.
Chaulagain, U.
Champion, N.
Barroso, P.
Reix, F.
Jagourel, P.
Larour, J.
Meltchakov, E.
Mercier, R.
Delmotte, F.
Kozlova, M.
Nejdl, J.
Krus, M.
Dostal, J.
Prokupek, J.
Constancias, C.
Suzuki-Vidal, F.
Acef, O.
Pokaż więcej
Źródło :
X-Ray Lasers 2012 : Proceedings of the 13th International Conference on X-Ray Lasers, 11–15 June 2012, Paris, France. 147:239-242
Książka elektroniczna
Tytuł :
Characterization of Zn X-Ray Laser at PALS Centre, Its Applications in Dense Plasma Probing and Astrophysics
Autorzy :
Kozlova, M.
Nejdl, J.
Krus, M.
Prokupek, J.
Dostal, J.
Rus, B.
Klisnick, A.
Meng, L.
Tissandier, F.
Stehlé, C.
Lefevre, R.
Chaulagain, U.
Champion, N.
Barroso, P.
Reix, F.
Jagourel, P.
Larour, J.
Delmotte, F.
Constancias, C.
Suzuki-Vidal, F.
Acef, O.
Pokaż więcej
Źródło :
X-Ray Lasers 2012 : Proceedings of the 13th International Conference on X-Ray Lasers, 11–15 June 2012, Paris, France. 147:151-159
Książka elektroniczna
Tytuł :
'SWIFTS Waveguide Micro-Spectrometer Integrated on Top of a 1D-NbN SNSPD Array,' Applied Superconductivity
Autorzy :
Cavalier, P.
Constancias, C.
Feautrier, P.
Maingault, L.
Morand, A.
Pokaż więcej
Temat :
[SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Źródło :
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
IEEE Transactions on Applied Superconductivity, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, pp.1-1. ⟨10.1109/TASC.2010.2086039⟩
Dostępność :
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::839312addb33fe25b2e64080dce7c262
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00603154
Tytuł :
Diffraction effects in an EUV interferometer
Autorzy :
Saib, M.
Besacier, M.
Michallon, P.
Constancias, C.
Pokaż więcej
Temat :
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Źródło :
7th Fraunhofer IISB Lithography simulation workshop
7th Fraunhofer IISB Lithography simulation workshop, 2009, Hersbruck, Germany
Dostępność :
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::e06b287e339506953f95b66a0c342ecd
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00461062
Tytuł :
New technique for EUV mask defect mitigation: 'Reversal Technology'
Autorzy :
Constancias, C.
De Nadaï, C.
Tiron, R.
Robic, J.Y
Beatrice, B.
Richard, Murielle
Besacier, M.
Pokaż więcej
Temat :
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Źródło :
EUV symposium
EUV symposium, 2005, san diego, United States
Dostępność :
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::73579b503a95bfec536e36f15452ad35
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00387455
Tytuł :
Observation Of The Emission From A Microtip Cathode Array With An "electrostatic-lens Microscope" : Statistical Aspects.
Autorzy :
Constancias, C.
Baptist, R.
Pokaż więcej
Źródło :
10th International Conference on Vacuum Microelectronics; 1997, p215-219, 5p
Konferencja
Tytuł :
Emission observation of a microtip cathode array with an electrostatic-lens projector: Statistical approach.
Autorzy :
Constancias, C.
Baptist, R.
Pokaż więcej
Źródło :
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1998, Vol. 16 Issue 2, p841-850, 10p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Microtips and resistive sheet: A theoretical description of the emissive properties of this system.
Autorzy :
Baptist, R.
Bachelet, F.
Constancias, C.
Pokaż więcej
Źródło :
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1997, Vol. 15 Issue 2, p385-390, 6p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Probing multilayer stack reflectors by low coherence interferometry in extreme ultraviolet.
Autorzy :
de Rossi S; Laboratoire Charles Fabry de I'Institut d'Optique, CNRS, Université Paris Sud, Campus Polytechnique, Palaiseau, France. />Joyeux D
Chavel P
de Oliveira N
Richard M
Constancias C
Robic JY
Pokaż więcej
Źródło :
Applied optics [Appl Opt] 2008 Apr 20; Vol. 47 (12), pp. 2109-15.
Typ publikacji :
Journal Article
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-53 z 53

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies