Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Corbett, James W."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
A Sheet Stress Measurement Technique Using Thin Films to Measure Stresses in Inert-Gas Implanted Silicon
Autorzy:
Yuan, Jianzhong
Corbett, James W.
Pokaż więcej
Źródło:
Crucial Issues in Semiconductor Materials and Processing Technologies. 222:251-255
Książka elektroniczna
Tytuł:
The effect of spatial correlations on steady-state nucleation kinetics in dense fluid systems
Autorzy:
Peak, David
Corbett, James W.
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Statistical Physics. September 1977 17(3):97-110
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Characterization of impurities and defects by electron paramagnetic resonance and related techniques
Autorzy:
Corbett, James W.
Kleinhenz, Richard L.
Zhi-put, YouAff1, Aff2
Pokaż więcej
Źródło:
Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School Held in Mátrafüred, Hungary September 13–17, 1982. 175:11-49
Materiał oryginalny:
Supported in part by the Office of Naval Research Contract No. N000-14-75-00919
Książka elektroniczna

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Prześlij opinię

Twoje opinie są dla nas bardzo ważne i mogą być niezwykle pomocne w pokazaniu nam, gdzie możemy dokonać ulepszeń. Bylibyśmy bardzo wdzięczni za poświęcenie kilku chwil na wypełnienie krótkiego formularza.

Formularz