- Tytuł:
- COMPUTATIONAL STUDIES OF SELF-TRAPPED EXCITONS IN SILICA
- Autorzy:
- Źródło:
- Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology. 2:329-337
Książka elektroniczna
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.