Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Ukraiński (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Uniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaUniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu

Wyszukujesz frazę ""Cruz-Valeriano, E."" wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-8 z 8
    Tytuł:
    Dielectric constant measurement using atomic force microscopy of dielectric films: a system theory approach
    Autorzy:
    Cruz-Valeriano, E.
    Guzmán-Caballero, D. E.
    Escamilla-Díaz, T.
    Gutierrez-Peralta, A.
    Davila, Susana Meraz
    Torres-Ochoa, J. A.
    Arciniega, J. J. Gervacio
    Murillo-Bracamontes, E. A.
    Enriquez-Flores, C. I.
    Ramírez-Bon, R.
    Palmerin, Joel Moreno
    Yañez-Limón, J. M.
    Pokaż więcej
    Źródło:
    Applied Physics A: Materials Science & Processing. 124(10)
    Czasopismo naukowe
    Pełny tekst  Link otwiera się w nowym oknie Pełny tekstSzczegóły
    Tytuł:
    Relation between work function microstructural and mechanical properties of TiN-films.
    Autorzy:
    Enriquez-Flores, C. I. (AUTHOR)
    Cruz-Valeriano, E. (AUTHOR)
    Gutierrez-Peralta, A. (AUTHOR)
    Gervacio-Arciniega, J. J. (AUTHOR)
    Ramírez-Álvarez, E. (AUTHOR)
    Leon-Sarabia, E. (AUTHOR)
    Moreno-Palmerin, J. (AUTHOR)
    Pokaż więcej
    Źródło:
    Surface Engineering. Sep2018, Vol. 34 Issue 9, p660-666. 7p.
    Czasopismo naukowe
    Pełny tekst  Link otwiera się w nowym oknie Pełny tekstSzczegóły
      Wyświetlanie 1-8 z 8

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies