Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Cui, Jiwen"" wg kryterium: Autor


Tytuł:
A Method for Measuring Parameters of Defective Ellipse Based on Vision.
Autorzy:
Zhang H; Center of Ultra-Precision Optoelectronic Instrument, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China.; Key Lab of Ultra-Precision Intelligent Instrumentation, Harbin Institute of Technology, Ministry of Industry and Information Technology, Harbin 150080, China.
Wang L; Center of Ultra-Precision Optoelectronic Instrument, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China.; Key Lab of Ultra-Precision Intelligent Instrumentation, Harbin Institute of Technology, Ministry of Industry and Information Technology, Harbin 150080, China.
Liu W; Center of Ultra-Precision Optoelectronic Instrument, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China.; Key Lab of Ultra-Precision Intelligent Instrumentation, Harbin Institute of Technology, Ministry of Industry and Information Technology, Harbin 150080, China.
Cui J; Center of Ultra-Precision Optoelectronic Instrument, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China.; Key Lab of Ultra-Precision Intelligent Instrumentation, Harbin Institute of Technology, Ministry of Industry and Information Technology, Harbin 150080, China.
Tan J; Center of Ultra-Precision Optoelectronic Instrument, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China.; Key Lab of Ultra-Precision Intelligent Instrumentation, Harbin Institute of Technology, Ministry of Industry and Information Technology, Harbin 150080, China.
Pokaż więcej
Źródło:
Sensors (Basel, Switzerland) [Sensors (Basel)] 2023 Jul 15; Vol. 23 (14). Date of Electronic Publication: 2023 Jul 15.
Typ publikacji:
Journal Article
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Generalized Cross-Correlation Strain Demodulation Method Based on Local Similar Spectral Scanning.
Autorzy:
Tian Y; Center of Ultra-Precision Optoelectronic Instrument, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China.; Key Lab of Ultra-Precision Intelligent Instrumentation, Harbin Institute of Technology, Ministry of Industryand Information Technology, Harbin 150080, China.
Cui J; Center of Ultra-Precision Optoelectronic Instrument, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China.; Key Lab of Ultra-Precision Intelligent Instrumentation, Harbin Institute of Technology, Ministry of Industryand Information Technology, Harbin 150080, China.
Xu Z; Center of Ultra-Precision Optoelectronic Instrument, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China.; Key Lab of Ultra-Precision Intelligent Instrumentation, Harbin Institute of Technology, Ministry of Industryand Information Technology, Harbin 150080, China.
Tan J; Center of Ultra-Precision Optoelectronic Instrument, Harbin Institute of Technology, Harbin 150080, China.; Key Lab of Ultra-Precision Intelligent Instrumentation, Harbin Institute of Technology, Ministry of Industryand Information Technology, Harbin 150080, China.
Pokaż więcej
Źródło:
Sensors (Basel, Switzerland) [Sensors (Basel)] 2022 Jul 19; Vol. 22 (14). Date of Electronic Publication: 2022 Jul 19.
Typ publikacji:
Journal Article
MeSH Terms:
Optical Fibers*
Refractometry*
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies