Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Cultrera, L."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Educational and Skills Mismatches: Unravelling Their Effects on Wages across Europe
Autorzy:
Cultrera, L. (ORCID 0000-0003-4400-4524)
Mahy, B.
Rycx, F. (ORCID 0000-0003-0964-0939)
Vermeylen, G. (ORCID 0000-0001-9641-060X)
Pokaż więcej
Deskryptory:
Job Skills
Educational Attainment
Wages
Foreign Countries
Education Work Relationship
Salary Wage Differentials
Źródło:
Education Economics. 2022 30(6):561-573.
Recenzowane naukowo:
Y
Page Count:
13
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Low energy photoemission from (100) Ba1−xLaxSnO3 thin films for photocathode applications
Autorzy:
Galdi, Alice
Pierce, Christopher M.
Cultrera, L.
Adhikari, Gowri
Schroeder, Walter Andreas
Paik, HanjongAff3, Aff4
Schlom, Darrel G.Aff3, Aff5
Nangoi, Johannes K.
Arias, Tomas A.
Lochocki, E.Aff3, Aff6
Parzyck, Christopher
Shen, Kyle M.Aff5, Aff6
Maxson, Jared M.
Bazarov, Ivan V.
Pokaż więcej
Źródło:
The European Physical Journal Special Topics. 228(3):713-718
Czasopismo naukowe
Tytuł:
A kiloelectron-volt ultrafast electron micro-diffraction apparatus using low emittance semiconductor photocathodes.
Autorzy:
Li, W. H.
Duncan, C. J. R.
Andorf, M. B.
Bartnik, A. C.
Bianco, E.
Cultrera, L.
Galdi, A.
Gordon, M.
Kaemingk, M.
Pennington, C. A.
Kourkoutis, L. F.
Bazarov, I. V.
Maxson, J. M.
Pokaż więcej
Temat:
PHOTOCATHODES
SEMICONDUCTORS
MULTIPLE scattering (Physics)
ELECTRON diffraction
PARTICLE beam bunching
PHOTOEMISSION
Źródło:
Structural Dynamics; Mar2022, Vol. 9 Issue 2, p1-11, 11p
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies