- Tytuł:
- Machine condition monitoring in FDM based on electret microphone, SVM, and neural networks.
- Autorzy:
- Źródło:
- International Journal of Advanced Manufacturing Technology; Nov2023, Vol. 129 Issue 3/4, p1769-1786, 18p
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.