Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""DEEP level transient spectroscopy"" wg kryterium: Temat


Tytuł :
Deep Traps in AlGaN/GaN Heterostructure Field-Effect Transistors Studied by Current-Mode Deep-Level Transient Spectroscopy: Influence of Device Location
Autorzy :
Fang, Z.-Q.
Claflin, B.
Look, D.C.
Pokaż więcej
Źródło :
Journal of Electronic Materials. December 2011 40(12):2337-2343
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies