Temat: "DEEP level transient spectroscopy" - OpacWWW

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: How small changes make a difference: Influence of low silver contents on the effect of RbF‐PDT in CIGS solar cells.
Autorzy:: Helder, Tim
Kanevce, Ana
Zinßer, Mario
Gutzler, Rico
Paetel, Stefan
Hempel, Wolfram
Magorian Friedlmeier, Theresa
Powalla, Michael; Pokaż więcej
Temat:: SOLAR cells
DEEP level transient spectroscopy
COPPER
BAND gaps
CRYSTAL grain boundaries
Źródło:: Progress in Photovoltaics; Dec2023, Vol. 31 Issue 12, p1205-1214, 10p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Effect of defect states on CH3NH3PbI3 solar cell efficiency by varying application time of antisolvents.
Autorzy:: Lee, Kyoung Su
Oh, Jaewon
Lee, Hyunbok
Ryu, Mee-Yi
Kim, Eun Kyu; Pokaż więcej
Temat:: DEEP level transient spectroscopy
SOLAR cell efficiency
PHOTOVOLTAIC power systems
ETHYL acetate
Źródło:: Applied Physics A: Materials Science & Processing; Sep2023, Vol. 129 Issue 9, p1-7, 7p, 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 3 Charts, 3 Graphs

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: High Performance Pd/4H-SiC Epitaxial Schottky Barrier Radiation Detectors for Harsh Environment Applications.
Autorzy:: Mandal, Krishna C.
Chaudhuri, Sandeep K.
Nag, Ritwik; Pokaż więcej
Temat:: NUCLEAR counters
SCHOTTKY barrier
DEEP level transient spectroscopy
NUCLEAR reactors
WIDE gap semiconductors
HEAT resistant alloys
Źródło:: Micromachines; Aug2023, Vol. 14 Issue 8, p1532, 13p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Nature of contaminants introduced in silicon wafers during molecular beam epitaxy chamber annealing.
Autorzy:: Yi, Chuqi
Zhou, Zhuangyi
Juhl, Mattias Klaus
Tong, Jingnan
Fong, Kean Chern
Rougieux, Fiacre Emile
Bremner, Stephen; Pokaż więcej
Temat:: SOLAR cells
MOLECULAR beam epitaxy
SILICON wafers
DEEP level transient spectroscopy
SILICON solar cells
EMISSION spectroscopy
Źródło:: AIP Advances; Mar2023, Vol. 13 Issue 3, p1-9, 9p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: The role of boron related defects in limiting charge carrier lifetime in 4H–SiC epitaxial layers.
Autorzy:: Ghezellou, Misagh
Kumar, Piyush
Bathen, Marianne E.
Karsthof, Robert
Sveinbjörnsson, Einar Ö.
Grossner, Ulrike
Bergman, J. Peder
Vines, Lasse
Ul-Hassan, Jawad; Pokaż więcej
Temat:: CHARGE carrier lifetime
EPITAXIAL layers
CHARGE carrier mobility
CHARGE carriers
DEEP level transient spectroscopy
Źródło:: APL Materials; Mar2023, Vol. 11 Issue 3, p1-10, 10p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Deep Level Transient Fourier Spectroscopy Investigation of Electron Traps on AlGaN/GaN-on-Si Power Diodes.
Autorzy:: Rigaud-Minet, Florian
Raynaud, Christophe
Buckley, Julien
Charles, Matthew
Pimenta-Barros, Patricia
Gwoziecki, Romain
Gillot, Charlotte
Sousa, Véronique
Morel, Hervé
Planson, Dominique; Pokaż więcej
Temat:: DEEP level transient spectroscopy
ELECTRON traps
ELECTRON spectroscopy
POWER electronics
DIODES
SURFACE recombination
Źródło:: Energies (19961073); Jan2023, Vol. 16 Issue 2, p599, 12p

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Electrical spectroscopy of defect states and their hybridization in monolayer MoS2.
Autorzy:: Zhao, Yanfei
Tripathi, Mukesh
Čerņevičs, Kristiāns
Avsar, Ahmet
Ji, Hyun Goo
Gonzalez Marin, Juan Francisco
Cheon, Cheol-Yeon
Wang, Zhenyu
Yazyev, Oleg V.
Kis, Andras; Pokaż więcej
Temat:: DEEP level transient spectroscopy
OPTICAL aberrations
SEMICONDUCTOR devices
MONOMOLECULAR films
FIELD-effect transistors
SCANNING transmission electron microscopy
SEMICONDUCTOR defects
Źródło:: Nature Communications; 1/3/2023, Vol. 14 Issue 1, p1-9, 9p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Experimental and theoretical studies of native deep-level defects in transition metal dichalcogenides.
Autorzy:: Kim, Jun Young
Gelczuk, Łukasz
Polak, Maciej P.
Hlushchenko, Daria
Morgan, Dane
Kudrawiec, Robert
Szlufarska, Izabela; Pokaż więcej
Temat:: DEEP level transient spectroscopy
TRANSITION metals
METAL defects
POINT defects
Źródło:: NPJ 2D Materials & Applications; 10/29/2022, Vol. 6 Issue 1, p1-11, 11p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Inspection of the Defect State Using the Mobility Spectrum Analysis Method.
Autorzy:: Ahn, Il-Ho
Kim, Deuk Young
Yang, Woochul; Pokaż więcej
Temat:: DEEP level transient spectroscopy
SPECTRUM analysis
DEBYE temperatures
THERMIONIC emission
SCHOTTKY barrier diodes
Źródło:: Nanomaterials (2079-4991); Aug2022, Vol. 12 Issue 16, p2773-2773, 11p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Effect of the Oxidation Process on Carrier Lifetime and on SF Defects of 4H SiC Thick Epilayer for Detection Applications.
Autorzy:: Meli, Alessandro
Muoio, Annamaria
Reitano, Riccardo
Sangregorio, Enrico
Calcagno, Lucia
Trotta, Antonio
Parisi, Miriam
Meda, Laura
La Via, Francesco; Pokaż więcej
Temat:: DEEP level transient spectroscopy
CHEMICAL-looping combustion
CHARGE carrier lifetime
EPITAXIAL layers
Źródło:: Micromachines; Jul2022, Vol. 13 Issue 7, pN.PAG-N.PAG, 11p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę ""DEEP level transient spectroscopy"" wg kryterium: Temat

Źródło danych

Ogranicz do:

Ogranicz do bazy

Typ dokumentu

Temat

Wydawca

Publikacja

Język