- Tytuł:
- Electrical properties and defect analysis of MAPbI3 thin films grown on TiO2 layer through a two-step drying process.
- Autorzy:
- Źródło:
-
Thin Solid Films . Oct2023, Vol. 782, pN.PAG-N.PAG. 1p.
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.