Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""DEEP level transient spectroscopy"" wg kryterium: Temat


Tytuł :
High resolution observation of defects at SiO2/4H-SiC interfaces using time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy
Autorzy :
Yamagishi, Y.
Cho, Y.
Pokaż więcej
Źródło :
In 29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis ( ESREF 2018 ), Microelectronics Reliability September 2018 88-90:242-245
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Local deep level transient spectroscopy using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy
Autorzy :
Chinone, N.
Pokaż więcej
Źródło :
In Proceedings of the 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Microelectronics Reliability September 2016 64:566-569
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Tailoring the Absorption Properties of Black Silicon
Autorzy :
Baumann, A.L.
Pokaż więcej
Źródło :
In Proceedings of the 2nd International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics SiliconPV 2012, Energy Procedia 2012 27:480-484
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Comparison between cathodoluminescence spectroscopy and capacitance transient spectroscopy on Al + ion implanted 4H-SiC p +/n diodes
Autorzy :
Fabbri, F.
Pokaż więcej
Źródło :
In Proceedings of the 9th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors (BIAMS 2008) Toledo (Spain), 29 June-3 July 2008, Superlattices and Microstructures 2009 45(4):383-387
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies