Temat: "DEEP level transient spectroscopy" - OpacWWW - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""DEEP level transient spectroscopy"" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-10 z 908

Zaznacz stronę

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Deep Level Transient Fourier Spectroscopy Investigation of Electron Traps on AlGaN/GaN-on-Si Power Diodes.
Autorzy:: Rigaud-Minet, Florian (AUTHOR)
Raynaud, Christophe (AUTHOR)
Buckley, Julien (AUTHOR)
Charles, Matthew (AUTHOR)
Pimenta-Barros, Patricia (AUTHOR)
Gwoziecki, Romain (AUTHOR)
Gillot, Charlotte (AUTHOR)
Sousa, Véronique (AUTHOR)
Morel, Hervé (AUTHOR)
Planson, Dominique (AUTHOR); Pokaż więcej
Źródło:: Energies (19961073). Jan2023, Vol. 16 Issue 2, p599. 12p.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: The Radial Effect for E1 and E3 Deep Traps Concentration in n-GaN Layers.
Autorzy:: KRUSZEWSKI, P.
PLESIEWICZ, J.
PRYSTAWKO, P.
GRZANKA, E.
MARONA, L.; Pokaż więcej
Źródło:: Acta Physica Polonica: A. Nov2022, Vol. 142 Issue 5, p611-614. 4p.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: DEEP LEVEL TRANSIENT SPECTROSCOPY OF DEFECTS IN SILICON MULTILAYER STRUCTURES DOPED WITH HAFNIUM ATOMS.
Autorzy:: Kh., Daliev Shakhrukh
A., Ergashev Javokhir; Pokaż więcej
Źródło:: European Science Review. 2022, Issue 5/6, p25-28. 4p.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: SIMULTANEOUS LOCAL CAPACITANCE-VOLTAGE PROFILING AND DEEP LEVEL TRANSIENT SPECTROSCOPY USING TIME-RESOLVED SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY.
Autorzy:: Yasuo Cho; Pokaż więcej
Źródło:: Electronic Device Failure Analysis. Feb2022, Vol. 24 Issue 1, p17-28. 8p.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Effect of defect states on CH3NH3PbI3 solar cell efficiency by varying application time of antisolvents.
Autorzy:: Lee, Kyoung Su (AUTHOR)
Oh, Jaewon (AUTHOR)
Lee, Hyunbok (AUTHOR)
Ryu, Mee-Yi (AUTHOR)
Kim, Eun Kyu (AUTHOR); Pokaż więcej
Źródło:: Applied Physics A: Materials Science & Processing. Sep2023, Vol. 129 Issue 9, p1-7. 7p. 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 3 Charts, 3 Graphs.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: DLTS investigations on CIGS solar cells from an inline co-evaporation system with RbF post-deposition treatment.
Autorzy:: Helder, Tim (AUTHOR)
Kanevce, Ana (AUTHOR)
Bauer, Andreas (AUTHOR)
Zinßer, Mario (AUTHOR)
Paetel, Stefan (AUTHOR)
Friedlmeier, Theresa Magorian (AUTHOR)
Powalla, Michael (AUTHOR); Pokaż więcej
Źródło:: EPJ Photovoltaics. 2022, Vol. 13, p1-6. 6p.

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: How small changes make a difference: Influence of low silver contents on the effect of RbF‐PDT in CIGS solar cells.
Autorzy:: Helder, Tim
Kanevce, Ana
Zinßer, Mario
Gutzler, Rico
Paetel, Stefan
Hempel, Wolfram
Magorian Friedlmeier, Theresa
Powalla, Michael; Pokaż więcej
Temat:: SOLAR cells
DEEP level transient spectroscopy
COPPER
BAND gaps
CRYSTAL grain boundaries
Źródło:: Progress in Photovoltaics; Dec2023, Vol. 31 Issue 12, p1205-1214, 10p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: High Performance Pd/4H-SiC Epitaxial Schottky Barrier Radiation Detectors for Harsh Environment Applications.
Autorzy:: Mandal, Krishna C.
Chaudhuri, Sandeep K.
Nag, Ritwik; Pokaż więcej
Temat:: NUCLEAR counters
SCHOTTKY barrier
DEEP level transient spectroscopy
NUCLEAR reactors
WIDE gap semiconductors
HEAT resistant alloys
Źródło:: Micromachines; Aug2023, Vol. 14 Issue 8, p1532, 13p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Effect of defect states on CH3NH3PbI3 solar cell efficiency by varying application time of antisolvents
Autorzy:: Lee, Kyoung Su
Oh, Jaewon
Lee, Hyunbok
Ryu, Mee-YiAff2, IDs0033902306900x_cor4
Kim, Eun KyuAff1, IDs0033902306900x_cor5; Pokaż więcej
Źródło:: Applied Physics A: Materials Science & Processing. 129(9)

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Inspection of the Defect State Using the Mobility Spectrum Analysis Method.
Autorzy:: Ahn, Il-Ho (AUTHOR)
Kim, Deuk Young (AUTHOR)
Yang, Woochul (AUTHOR); Pokaż więcej
Źródło:: Nanomaterials (2079-4991). Aug2022, Vol. 12 Issue 16, p2773-2773. 11p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-10 z 908

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies