Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""DEFORMATIONS \(Mechanics\)"" wg kryterium: Temat


Tytuł :
Mechanical stress in InP and GaAs ridges formed by reactive ion etching.
Autorzy :
Landesman, Jean-Pierre (AUTHOR)
Fouchier, Marc (AUTHOR)
Pargon, Erwine (AUTHOR)
Gérard, Solène (AUTHOR)
Rochat, Névine (AUTHOR)
Levallois, Christophe (AUTHOR)
Mokhtari, Merwan (AUTHOR)
Pagnod-Rossiaux, Philippe (AUTHOR)
Laruelle, François (AUTHOR)
Petit-Etienne, Camille (AUTHOR)
Bettiati, Mauro (AUTHOR)
Jiménez, Juan (AUTHOR)
Cassidy, Daniel T. (AUTHOR)
Pokaż więcej
Źródło :
Journal of Applied Physics. 12/14/2020, Vol. 182 Issue 22, p1-12. 12p.
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies