Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Das, A. G. M."" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-9 z 9
Tytuł :
A study of the T2 defect and the emission properties of the E3 deep level in annealed melt grown ZnO single crystals.
Autorzy :
Mtangi, W.
Schmidt, M.
Auret, F. D.
Meyer, W. E.
Janse van Rensburg, P. J.
Diale, M.
Nel, J. M.
Das, A. G. M.
Ling, F. C. C.
Chawanda, A.
Pokaż więcej
Temat :
SPECTRUM analysis
DIAGNOSTIC imaging
ZINC oxide
DEEP level transient spectroscopy
CRYSTALS
Źródło :
Journal of Applied Physics; Mar2013, Vol. 113 Issue 12, p124502, 8p, 2 Charts, 7 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Technology assisted enhanced teaching and learning methods: A research project at Monash University.
Autorzy :
Das, A. G. M.
Pokaż więcej
Źródło :
2012 Second International Conference on Digital Information & Communication Technology & It's Applications (DICTAP); 1/ 1/2012, p440-446, 7p
Konferencja
Tytuł :
Deep level transient spectroscopy characterization of defects introduced in p-Si by electron beam deposition and proton irradiation.
Autorzy :
Nyamhere, C
Das, A G M
Auret, F D
C, M Hayes
Pokaż więcej
Źródło :
Journal of Physics: Conference Series; 2008, Vol. 100 Issue 1, p042004-042007, 4p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Improved reliability of bistable circuits by selective hot-carrier stress reduction
Autorzy :
Das, A. G. M.
Johnson, S.
Pokaż więcej
Źródło :
Microelectronics Reliability; 1998, Vol. 38 Issue: 6 p1177-1182, 6p
Periodyk
    Wyświetlanie 1-9 z 9

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies