Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Das, H. A."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Non-destructive Detection of Screw Dislocations and the Corresponding Defects Nucleated from Them During SiC Epitaxial Growth and Their Effect on Device Characteristics
Autorzy:
Das, H.
Sunkari, S.
Naas, H.
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Electronic Materials. 47(9):5099-5104
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies