Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Davila, Susana Meraz"" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Dielectric constant measurement using atomic force microscopy of dielectric films: a system theory approach
Autorzy:
Cruz-Valeriano, E.
Guzmán-Caballero, D. E.
Escamilla-Díaz, T.
Gutierrez-Peralta, A.
Davila, Susana Meraz
Torres-Ochoa, J. A.
Arciniega, J. J. Gervacio
Murillo-Bracamontes, E. A.
Enriquez-Flores, C. I.
Ramírez-Bon, R.
Palmerin, Joel Moreno
Yañez-Limón, J. M.
Pokaż więcej
Źródło:
Applied Physics A: Materials Science & Processing. 124(10)
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies