Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Detavernier, C."" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Formation and preferential orientation of Au-free Al/Ti-based ohmic contacts on different hexagonal nitride-based heterostructures.
Autorzy :
Geenen, F.
Constant, A.
Solano, E.
Deduytsche, D.
Mocuta, C.
Coppens, P.
Detavernier, C.
Pokaż więcej
Temat :
OHMIC contacts
NITRIDES
WIDE gap semiconductors
EPITAXIAL layers
MODULATION-doped field-effect transistors
ELECTRON mobility
POWER density
Źródło :
Journal of Applied Physics; 6/7/2020, Vol. 127 Issue 21, p1-15, 15p, 5 Diagrams, 2 Charts, 15 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Ion beam modification of the Ni-Si solid-phase reaction: The influence of substrate damage and nitrogen impurities introduced by ion implantation.
Autorzy :
van Stiphout, K
Geenen, F A
Santos, N M
Miranda, S M C
Joly, V
Demeulemeester, J
Mocuta, C
Comrie, C M
Detavernier, C
Pereira, L M C
Temst, K
Vantomme, A
Pokaż więcej
Temat :
ION implantation
RUTHERFORD backscattering spectrometry
AMORPHOUS alloys
THIN films
ION channels
SYNCHROTRONS
Źródło :
Journal of Physics: D Applied Physics; 1/7/2021, Vol. 54 Issue 1, p1-16, 16p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Ternary silicide formation from Ni-Pt, Ni-Pd and Pt-Pd alloys on Si(100): Nucleation and solid solubility of the monosilicides
Autorzy :
Schrauwen, A.
Pokaż więcej
Źródło :
In Acta Materialia 15 May 2017 130:19-27
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Formation of CuInSe2 films from metal sulfide and selenide precursor nanocrystals by gas-phase selenization, an in-situ XRD study
Autorzy :
Capon, B.
Pokaż więcej
Źródło :
In Thin Solid Films 1 August 2016 612:208-213
Czasopismo naukowe
Tytuł :
The influence of alloying on the phase formation sequence of ultra-thin nickel silicide films and on the inheritance of texture.
Autorzy :
Geenen, F. A.
Solano, E.
Jordan-Sweet, J.
Lavoie, C.
Mocuta, C.
Detavernier, C.
Pokaż więcej
Temat :
THIN films
SILICIDES
ELECTRIC contacts
SCHOTTKY barrier
NICKEL alloys
PHASE transformations (Physics)
Źródło :
Journal of Applied Physics; 2018, Vol. 123 Issue 18, pN.PAG-N.PAG, 13p, 4 Diagrams, 5 Charts, 7 Graphs
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies