Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Diale, M."" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Characterization of sequential physical vapor deposited methylammonium lead tri-iodide perovskite thin films
Autorzy :
Fru, J.N.
Pokaż więcej
Źródło :
In Vacuum December 2020 182
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Electrical characterisation of deep level defects created by bombarding the n-type 4H-SiC with 1.8 MeV protons
Autorzy :
Omotoso, E.
Pokaż więcej
Źródło :
In Surface Modification of Materials by Ion Beams 2017 (SMMIB-2017), Surface & Coatings Technology 15 December 2018 355:2-6
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies