Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""ELLIPSOMETRY"" wg kryterium: Temat


Tytuł :
Vacancy defects induced changes in the electronic and optical properties of NiO studied by spectroscopic ellipsometry and first-principles calculations.
Autorzy :
Egbo, Kingsley O.
Liu, Chao Ping
Ekuma, Chinedu E.
Yu, Kin Man
Pokaż więcej
Temat :
OPTICAL properties
NICKEL oxide
ELLIPSOMETRY
OPTICAL constants
X-ray photoelectron spectroscopy
ELECTRONIC density of states
OPTOELECTRONIC devices
Źródło :
Journal of Applied Physics; 10/7/2020, Vol. 128 Issue 13, p1-11, 11p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Spectroscopic ellipsometry of amorphous Se superlattices.
Autorzy :
John, Joshua D (AUTHOR)
Okano, Shun (AUTHOR)
Sharma, Apoorva (AUTHOR)
Nishimoto, Satoru (AUTHOR)
Miyachi, Noritoshi (AUTHOR)
Enomoto, Kunitaka (AUTHOR)
Ochiai, Jun (AUTHOR)
Saito, Ichitaro (AUTHOR)
Salvan, Georgeta (AUTHOR)
Masuzawa, Tomoaki (AUTHOR)
Yamada, Takatoshi (AUTHOR)
Chua, Daniel H C (AUTHOR)
Zahn, Dietrich R T (AUTHOR)
Okano, Ken (AUTHOR)
Pokaż więcej
Źródło :
Journal of Physics: D Applied Physics. 6/24/2021, Vol. 54 Issue 25, p1-8. 8p.
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Quantitative relation between thickness and grafting density of temperature‐responsive poly(N‐isopropylacrylamide‐co‐acrylamide) thin film using synchrotron‐source ATR‐FTIR and spectroscopic ellipsometry.
Autorzy :
Sakulaue, Phongphot (AUTHOR)
Lertvanithphol, Tossaporn (AUTHOR)
Eiamchai, Pitak (AUTHOR)
Siriwatwechakul, Wanwipa (AUTHOR)
Pokaż więcej
Źródło :
Surface & Interface Analysis: SIA. Feb2021, Vol. 53 Issue 2, p268-276. 9p.
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies