Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Edwards, Hal"" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Gate length and temperature dependence of negative differential transconductance in silicon quantum well metal-oxide-semiconductor field-effect transistors.
Autorzy :
Naquin, Clint
Lee, Mark
Edwards, Hal
Mathur, Guru
Chatterjee, Tathagata
Maggio, Ken
Pokaż więcej
Temat :
QUANTUM wells
FIELD-effect transistors
METAL oxide semiconductor field
ION implantation
QUANTUM dots
Źródło :
Journal of Applied Physics; 2015, Vol. 118 Issue 12, p124505-1-124505-6, 6p, 2 Diagrams, 7 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Vertical metrology using scanning-probe microscopes: Imaging distortions and measurement repeatabily
Autorzy :
Edwards, Hal
McGlothlin, Rudye
U, Elisa
Pokaż więcej
Temat :
MICROSCOPY
Źródło :
Journal of Applied Physics; 4/15/1998, Vol. 83 Issue 8, p3952, 20p, 28 Black and White Photographs, 4 Diagrams, 11 Charts, 12 Graphs
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies