- Tytuł:
- Characterization of growth defects in thin GaN layers with X-ray microbeam.
- Autorzy:
- Źródło:
-
Physica Status Solidi (B) ; May2007, Vol. 244 Issue 5, p1735-1742, 8p
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.