- Tytuł:
- Impact of nonuniform gate oxide shape on TFET performance: A reliability issue
- Autorzy:
- Źródło:
- In Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures February 2019 106:346-351
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.