- Tytuł:
- Stress-induced expression of IPT gene in transgenic wheat reduces grain yield penalty under drought
- Autorzy:
- Źródło:
- Journal of Genetic Engineering and Biotechnology. 19(1)
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.