Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Expansion of solids"" wg kryterium: Temat


Tytuł :
Stress distribution at the AlN/SiC heterointerface probed by Raman spectroscopy.
Autorzy :
Breev, I. D.
Likhachev, K. V.
Yakovleva, V. V.
Hübner, R.
Astakhov, G. V.
Baranov, P. G.
Mokhov, E. N.
Anisimov, A. N.
Pokaż więcej
Temat :
STRESS concentration
RAMAN spectroscopy
PHYSICAL vapor deposition
STRAINS & stresses (Mechanics)
EXPANSION of solids
INTERFACIAL resistance
INTERFACES (Physical sciences)
Źródło :
Journal of Applied Physics; 2/7/2021, Vol. 129 Issue 5, p1-9, 9p
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies