- Tytuł:
- Avalanche ruggedness and failure mode of SiC trench MOSFETs
- Autorzy:
- Źródło:
- In Microelectronics Reliability November 2023 150
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.