Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Falke, U."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Imaging of compositional defects at silicide-silicon interfaces using aberration corrected HAADF
Autorzy:
Falke, M.
Falke, U.
Wang, P.
Bleloch, A.
Pokaż więcej
Źródło:
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany : Volume 2: Materials Science. :331-332
Książka elektroniczna

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies