- Tytuł:
-
Analysis of Barrier Height and Carrier Concentration of MOS Capacitor Using C-f and
G /ω-f Measurements. - Autorzy:
- Źródło:
- Gazi University Journal of Science. 2014, Vol. 27 Issue 3, p909-915. 7p.
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.