Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""GaN, Si, AlN, AlGaN, SEM, XRD, XPS, HVPE"" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
CERCETĂRI XRD ȘI XPS ALE STRATURILOR DE AlN, AlGaN, GaN DEPUSE PE SILICIU PRIN METODA HVPE
Autorzy:
Simion RAEVSCHI
Nicolae SPALATU
Vasile BOTNARIUC
Leonid GORCEAC
Tamara POTLOG
Marius DOBROMIR
Pokaż więcej
Temat:
GaN, Si, AlN, AlGaN, SEM, XRD, XPS, HVPE.
Science (General)
Q1-390
Economics as a science
HB71-74
Źródło:
Studia Universitatis Moldaviae: Stiinte Exacte si Economice, Vol 0, Iss 2 (112) (2018)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
http://ojs.studiamsu.eu/index.php/exact-economic/article/view/1233; https://doaj.org/toc/1857-2073; https://doaj.org/toc/2345-1033
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/3780b403685648b0a96fb16a1195c737  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies