Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Galiev, G. B."" wg kryterium: Autor


Tytuł :
High-resolution X-ray diffractometry and transmission electron microscopy as applied to the structural study of InAlAs/InGaAs/InAlAs multilayer transistor nanoheterostructures
Autorzy :
Galiev, G. B.
Klimov, E. A.
Imamov, R. M.
Ganin, G. V.
Pushkarev, S. S.
Maltsev, P. P.
Zhigalina, O. M.
Orekhov, A. S.
Vasil’ev, A. L.
Presniakov, M. Yu.
Trunkin, I. N.
Pokaż więcej
Źródło :
Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. May 2016 10(3):495-509
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies