- Tytuł:
- Time-resolved self-heating temperature measurements of AlInN/GaN HEMTs using CeO2 Raman micro-thermometers
- Autorzy:
- Źródło:
- In Microelectronics Reliability November 2023 150
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.