Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Gocalinska, A."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Structural and Electronic Properties of Polycrystalline InAs Thin Films Deposited on Silicon Dioxide and Glass at Temperatures below 500 °C
Autorzy:
Anya Curran
Agnieszka Gocalinska
Andrea Pescaglini
Eleonora Secco
Enrica Mura
Kevin Thomas
Roger E. Nagle
Brendan Sheehan
Ian M. Povey
Emanuele Pelucchi
Colm O’Dwyer
Paul K. Hurley
Farzan Gity
Pokaż więcej
Temat:
polycrystalline
InAs
thin films
Crystallography
QD901-999
Źródło:
Crystals, Vol 11, Iss 160, p 160 (2021)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://www.mdpi.com/2073-4352/11/2/160; https://doaj.org/toc/2073-4352
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/b4687f6106c14ab2a814c4d1d2f9e4d7  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies