Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Gotszalk, T."" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Origin and anomalous behavior of dominant defects in 4H-SiC studied by conventional and Laplace deep level transient spectroscopy.
Autorzy :
Gelczuk, Ł.
Dąbrowska-Szata, M.
Kolkovsky, Vl.
Sochacki, M.
Szmidt, J.
Gotszalk, T.
Pokaż więcej
Temat :
DEEP level transient spectroscopy
SCHOTTKY barrier diodes
EPITAXIAL layers
ELECTRON emission
CONDUCTION bands
Źródło :
Journal of Applied Physics; 2/14/2020, Vol. 127 Issue 6, p1-6, 6p, 2 Charts, 6 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Near-zero contact force atomic force microscopy investigations using active electromagnetic cantilevers.
Autorzy :
Świadkowski, B
Majstrzyk, W
Kunicki, P
Sierakowski, A
Gotszalk, T
Pokaż więcej
Temat :
ATOMIC force microscopy
CANTILEVERS
PID controllers
ELECTROMAGNETIC actuators
ELECTRIC currents
ELECTRIC fields
LORENTZ force
Źródło :
Nanotechnology; 10/16/2020, Vol. 31 Issue 42, p1-11, 11p
Terminy geograficzne :
NEW Zealand
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Metrology of electromagnetic static actuation of MEMS microbridge using atomic force microscopy
Autorzy :
Moczała, M.
Pokaż więcej
Źródło :
In Micron May 2016 84:1-6
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Evaluation of Pseudomonas aeruiginosa Biofilm Formation using Quartz Tuning Forks as Impedance Sensors
Autorzy :
Piasecki, T.
Pokaż więcej
Źródło :
In 26th European Conference on Solid-State Transducers, EUROSENSOR 2012, Procedia Engineering 2012 47:631-634
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies