- Tytuł:
-
Flexible Measurement of High-Slope Micro-Nano Structures with Tilted Wave Digital
Holographic Microscopy. - Autorzy:
- Źródło:
- Sensors (14248220). Dec2023, Vol. 23 Issue 23, p9526. 13p.
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.