Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Hiller, Karla"" wg kryterium: Wszystkie pola


Tytuł:
Numerical characterization and experimental verification of an in-plane MEMS-actuator with thin-film aluminum heater.
Autorzy:
Meszmer, Peter
Hiller, Karla
Hartmann, Steffen
Shaporin, Alexey
May, Daniel
Rodriguez, Raul
Arnold, Jörg
Schondelmaier, Gianina
Mehner, Jan
Zahn, Dietrich
Wunderle, Bernhard
Pokaż więcej
Temat:
MICROELECTROMECHANICAL systems
ELECTRICAL engineering materials
ACTUATORS
ELECTROMECHANICAL devices
ACTUATOR manufacturing
Źródło:
Microsystem Technologies; Jun2014, Vol. 20 Issue 6, p1041-1050, 10p
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Design, Modeling, Fabrication, and Verification of New Multifunctional MEMS/NEMS Components.
Autorzy:
Freitag, Markus
Sauppe, Matthias
Auerswald, Christian
Kriebel, David
Schmidt, Henry
Voigt, Sebastian
Arnold, Benjamin
Markert, Erik
Hahn, Susann
Hiller, Karla
Heinkel, Ulrich
Mehner, Jan
Pokaż więcej
Temat:
NANOELECTROMECHANICAL systems
MICROELECTROMECHANICAL systems
DIRECT currents
CARBON nanotubes
DESIGN
ACOUSTIC emission
Źródło:
Physica Status Solidi. A: Applications & Materials Science; Oct2019, Vol. 216 Issue 19, pN.PAG-N.PAG, 1p
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Highly Miniaturized MEMS‐Based Test Platforms for Thermo‐Mechanical and Reliability Characterization of Nano‐Functional Elements − Technology and Functional Test Results.
Autorzy:
Meszmer, Peter
Hahn, Susann
Hiller, Karla
Wunderle, Bernhard
Pokaż więcej
Temat:
TACTILE sensors
ALUMINUM wire
RELIABILITY in engineering
TEST reliability
TECHNOLOGY
NANOPOSITIONING systems
Źródło:
Physica Status Solidi. A: Applications & Materials Science; Oct2019, Vol. 216 Issue 19, pN.PAG-N.PAG, 1p
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Nanomechanical Characterization of Vertical Nanopillars Using an MEMS-SPM Nano-Bending Testing Platform.
Autorzy:
Li, Zhi
Gao, Sai
Brand, Uwe
Hiller, Karla
Hahn, Susann
Hamdana, Gerry
Peiner, Erwin
Wolff, Helmut
Bergmann, Detlef
Pokaż więcej
Temat:
BENDING (Metalwork)
DIGITAL image correlation
SCANNING probe microscopy
QUALITY control
MICROELECTROMECHANICAL systems
SCANNING systems
Źródło:
Sensors (14248220); Oct2019, Vol. 19 Issue 20, p4529, 1p
Czasopismo naukowe
Tytuł:
The Limits of the Post‐Growth Optimization of AlN Thin Films Grown on Si(111) via Magnetron Sputtering.
Autorzy:
Solonenko, Dmytro
Schmidt, Constance
Stoeckel, Chris
Hiller, Karla
Zahn, Dietrich R. T.
Pokaż więcej
Temat:
ANNEALING of metals
MAGNETRON sputtering
THIN films
SCANNING probe microscopy
FOURIER transform infrared spectroscopy
RUTHERFORD backscattering spectrometry
ALUMINUM nitride
ALUMINUM nitride films
Źródło:
Physica Status Solidi (B); May2020, Vol. 257 Issue 5, p1-9, 9p
Czasopismo naukowe
Tytuł:
2D Scanning Micromirror with Large Scan Angle and Monolithically Integrated Angle Sensors Based on Piezoelectric Thin Film Aluminum Nitride.
Autorzy:
Meinel, Katja
Melzer, Marcel
Stoeckel, Chris
Shaporin, Alexey
Forke, Roman
Zimmermann, Sven
Hiller, Karla
Otto, Thomas
Kuhn, Harald
Pokaż więcej
Temat:
ALUMINUM nitride films
PIEZOELECTRIC thin films
PIEZO-electric detectors
MICROMIRROR devices
FLUORESCENCE microscopy
Źródło:
Sensors (14248220); Nov2020, Vol. 20 Issue 22, p6599, 1p
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Co-sputtering of Al1-xScxN thin films on Pt(111): a characterization by Raman and IR spectroscopies.
Autorzy:
Solonenko, Dmytro
Lan, Chuanqi
Schmidt, Constance
Stoeckel, Chris
Hiller, Karla
Zahn, Dietrich R. T.
Pokaż więcej
Temat:
THIN films
RAMAN spectroscopy
ALUMINUM nitride
X-ray spectroscopy
PHASE separation
METALLIC films
Źródło:
Journal of Materials Science; Dec2020, Vol. 55 Issue 36, p17061-17071, 11p, 3 Graphs
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Prześlij opinię

Twoje opinie są dla nas bardzo ważne i mogą być niezwykle pomocne w pokazaniu nam, gdzie możemy dokonać ulepszeń. Bylibyśmy bardzo wdzięczni za poświęcenie kilku chwil na wypełnienie krótkiego formularza.

Formularz