Wszystkie pola: "Hiller, Karla" - OpacWWW - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Hiller, Karla"" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-10 z 18

Zaznacz stronę

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Numerical characterization and experimental verification of an in-plane MEMS-actuator with thin-film aluminum heater.
Autorzy:: Meszmer, Peter
Hiller, Karla
Hartmann, Steffen
Shaporin, Alexey
May, Daniel
Rodriguez, Raul
Arnold, Jörg
Schondelmaier, Gianina
Mehner, Jan
Zahn, Dietrich
Wunderle, Bernhard; Pokaż więcej
Temat:: MICROELECTROMECHANICAL systems
ELECTRICAL engineering materials
ACTUATORS
ELECTROMECHANICAL devices
ACTUATOR manufacturing
Źródło:: Microsystem Technologies; Jun2014, Vol. 20 Issue 6, p1041-1050, 10p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Acknowledgement to Reviewers of Micromachines in 2016.
Źródło:: Micromachines; Jan2017, Vol. 8 Issue 1, p19, 6p
Ludzie:: ABATE, Adam
BASU, Anirban
BEYNE, Eric

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Integrated Microsystems for Smart Applications.
Autorzy:: Otto, Thomas
Kurth, Steffen
Voigt, Sven
Morschhauser, Andreas
Meinig, Marco
Hiller, Karla
Moebius, Martin
Vogel, Martina; Pokaż więcej
Temat:: MICROTECHNOLOGY
INTERNET of things
SMARTPHONES
SMART power grids
NANOELECTRONICS
Źródło:: Sensors & Materials; 2018, Vol. 30 Issue 4, Part 1, p767-778, 12p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Design, Modeling, Fabrication, and Verification of New Multifunctional MEMS/NEMS Components.
Autorzy:: Freitag, Markus
Sauppe, Matthias
Auerswald, Christian
Kriebel, David
Schmidt, Henry
Voigt, Sebastian
Arnold, Benjamin
Markert, Erik
Hahn, Susann
Hiller, Karla
Heinkel, Ulrich
Mehner, Jan; Pokaż więcej
Temat:: NANOELECTROMECHANICAL systems
MICROELECTROMECHANICAL systems
DIRECT currents
CARBON nanotubes
DESIGN
ACOUSTIC emission
Źródło:: Physica Status Solidi. A: Applications & Materials Science; Oct2019, Vol. 216 Issue 19, pN.PAG-N.PAG, 1p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Highly Miniaturized MEMS‐Based Test Platforms for Thermo‐Mechanical and Reliability Characterization of Nano‐Functional Elements − Technology and Functional Test Results.
Autorzy:: Meszmer, Peter
Hahn, Susann
Hiller, Karla
Wunderle, Bernhard; Pokaż więcej
Temat:: TACTILE sensors
ALUMINUM wire
RELIABILITY in engineering
TEST reliability
TECHNOLOGY
NANOPOSITIONING systems
Źródło:: Physica Status Solidi. A: Applications & Materials Science; Oct2019, Vol. 216 Issue 19, pN.PAG-N.PAG, 1p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Sensoric Micro and Nano Systems.
Autorzy:: Zahn, Dietrich R. T.
Schulz, Stefan E.
Hiller, Karla
Wagner, Christian
Reuter, Danny
Otto, Thomas; Pokaż więcej
Temat:: MICROELECTROMECHANICAL systems
DIGITAL electronics
ELECTRONIC equipment
MOORE'S law
MICROELECTRONICS
SMART materials
ELECTRONIC systems
Źródło:: Physica Status Solidi. A: Applications & Materials Science; Oct2019, Vol. 216 Issue 19, pN.PAG-N.PAG, 1p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Nanomechanical Characterization of Vertical Nanopillars Using an MEMS-SPM Nano-Bending Testing Platform.
Autorzy:: Li, Zhi
Gao, Sai
Brand, Uwe
Hiller, Karla
Hahn, Susann
Hamdana, Gerry
Peiner, Erwin
Wolff, Helmut
Bergmann, Detlef; Pokaż więcej
Temat:: BENDING (Metalwork)
DIGITAL image correlation
SCANNING probe microscopy
QUALITY control
MICROELECTROMECHANICAL systems
SCANNING systems
Źródło:: Sensors (14248220); Oct2019, Vol. 19 Issue 20, p4529, 1p

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: The Limits of the Post‐Growth Optimization of AlN Thin Films Grown on Si(111) via Magnetron Sputtering.
Autorzy:: Solonenko, Dmytro
Schmidt, Constance
Stoeckel, Chris
Hiller, Karla
Zahn, Dietrich R. T.; Pokaż więcej
Temat:: ANNEALING of metals
MAGNETRON sputtering
THIN films
SCANNING probe microscopy
FOURIER transform infrared spectroscopy
RUTHERFORD backscattering spectrometry
ALUMINUM nitride
ALUMINUM nitride films
Źródło:: Physica Status Solidi (B); May2020, Vol. 257 Issue 5, p1-9, 9p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: 2D Scanning Micromirror with Large Scan Angle and Monolithically Integrated Angle Sensors Based on Piezoelectric Thin Film Aluminum Nitride.
Autorzy:: Meinel, Katja
Melzer, Marcel
Stoeckel, Chris
Shaporin, Alexey
Forke, Roman
Zimmermann, Sven
Hiller, Karla
Otto, Thomas
Kuhn, Harald; Pokaż więcej
Temat:: ALUMINUM nitride films
PIEZOELECTRIC thin films
PIEZOELECTRIC detectors
MICROMIRROR devices
FLUORESCENCE microscopy
Źródło:: Sensors (14248220); Nov2020, Vol. 20 Issue 22, p6599, 1p

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Co-sputtering of Al1-xScxN thin films on Pt(111): a characterization by Raman and IR spectroscopies.
Autorzy:: Solonenko, Dmytro
Lan, Chuanqi
Schmidt, Constance
Stoeckel, Chris
Hiller, Karla
Zahn, Dietrich R. T.; Pokaż więcej
Temat:: THIN films
RAMAN spectroscopy
ALUMINUM nitride
X-ray spectroscopy
PHASE separation
METALLIC films
Źródło:: Journal of Materials Science; Dec2020, Vol. 55 Issue 36, p17061-17071, 11p, 3 Graphs

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Pełny tekst Szczegóły

Wyświetlanie 1-10 z 18

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies